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Ｘ線結晶解析は、結晶によるＸ線の回折現象を利用して結晶を構成する分子の三次元構造を直接的に決定することができる、極めて強力な構造決定法です。
従来は、Ｘ線結晶解析の専門家に依頼しなければなりませんでしたが、最近では測定の簡素化が進み、また新しい方法論の開発やコンピュータ技術の飛躍的な進歩により、化合物を合成した人が自分自身で解析できるようになりました。
条件が良ければごく小さい結晶一個を用いて、一日から数日で精密な立体構造を明らかにすることができます。
主として、低分子の有機化合物の構造決定に利用します。