走査プローブ顕微鏡

（SIIナノテクノロジー　SPA-400）

【用途の大要】

　カンチレバーの先端に取り付けた非常に小さなプローブ（探針）を試料表面に近づけて、試料表面と針との間に作用するさまざまな物理量（原子間力等）を検出することによって、試料表面のナノレベルの形状や物性等を観察できます。
　試料に特殊な前処理を施すことなく大気または液中での観察が可能で、生物系試料の観察が可能なシステムです。

【仕様】

• 制御部：NanoNavi ステーション
  • OS：Windows XP
  • 機能：測定、データ補正、三次元表示、データ解析、データ解析バッチ処理、粒子解析
• 本体：多機能型ユニット　SPA-400
  • 測定方式：光てこ方式
  • 分解能：原子分解能
  • スキャナー走査範囲： XY: 20μm，Z: 1.5μm
  • 試料サイズ：35mmΦ，10mm厚
  • 測定モード：AFM (Atomic Force Microscope)，DFM (Dynamic Force Mode) 他（液中測定可）
  • 位置決め：付属光学顕微鏡による

【使用上の注意】

• 初めての利用者は担当者にお問合わせ下さい。
• 「機器予約システム」による予約が必要です。

【利用料金】

• 形態系の利用規定によります。「料金表」（学内限定）参照

【管理担当】

• 管理主担当：西尾 和之（施設管理室：7176）
• 管理補助：　鈴木 二平（施設管理室：7176）